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Tapping Mode
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(dynamische Kraftmikroskopie) |
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Dadurch wird ein Schleifen der Spitze über die Probe verhindert, was bei der Untersuchung schwach gebundener oder weicher Proben von hohem Vorteil ist. Anders als im Non-Contact Mode ist die Oszillations Amplitude groß genug um die Adhäsions Kräfte der Probe zu überkommen. Die Variation der Amplitude wird verwendet um Oberflächen Strukturen zu identifizieren und zu messen. Wenn die Spitze etwa über einen Hügel läuft wird die Amplitude der Oszillation geringer, wenn sie über eine Vertiefung läuft hat sie mehr Platz und die Amplitude steigt. |
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